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Improved test generation for multiple faults in programmable logic arrays

Chen, Yongzhang



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF)
Publikationstyp Buch
Jahr 1993
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 43193
Erscheinungsvermerk Karlsruhe 1993. (Interner Bericht. Fakultaet fuer Informatik, Universitaet Karlsruhe. 1993,20.)
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