Improved test generation for multiple faults in programmable logic arrays
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
| Publikationstyp | Buch |
| Publikationsjahr | 1993 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 43193 |
| Erscheinungsvermerk | Karlsruhe 1993. (Interner Bericht. Fakultaet fuer Informatik, Universitaet Karlsruhe. 1993,20.) |