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Improved test generation for multiple faults in programmable logic arrays

Chen, Yongzhang



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF)
Publikationstyp Buch
Publikationsjahr 1993
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 43193
Erscheinungsvermerk Karlsruhe 1993. (Interner Bericht. Fakultaet fuer Informatik, Universitaet Karlsruhe. 1993,20.)
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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