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Transmission electron microscopy of semiconductor nanostructures. An analysis of composition and strain state

Rosenauer, Andreas



Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Physik (PHYSIK)
Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Buch
Jahr 2003
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 432003
Erscheinungsvermerk Berlin 2003. (Springer tracts in modern physics. 182.) Fak. f. Physik, Habil.-Schr. v. 28.11.2001.
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