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Transmission electron microscopy of semiconductor nanostructures. An analysis of composition and strain state

Rosenauer, Andreas



Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Physik (PHYSIK)
Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Buch
Publikationsjahr 2003
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 432003
Erscheinungsvermerk Berlin 2003. (Springer tracts in modern physics. 182.) Fak. f. Physik, Habil.-Schr. v. 28.11.2001.
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