Transmission electron microscopy of semiconductor nanostructures. An analysis of composition and strain state
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) |
| Publikationstyp | Buch |
| Publikationsjahr | 2003 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 432003 |
| Erscheinungsvermerk | Berlin 2003. (Springer tracts in modern physics. 182.) Fak. f. Physik, Habil.-Schr. v. 28.11.2001. |