KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Parametrisches optisches Messen bei der Herstellung von Mikrostrukturen mit beliebiger, ebener Oberflaechengeometrie

Buerg, Bernhard


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/4391
Veröffentlicht am 25.04.2018
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Datenverarbeitung in der Technik (IDT)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsjahr 1991
Sprache Deutsch
Identifikator urn:nbn:de:swb:90-AAA43916
KITopen-ID: 4391
Reportnummer: KFK-4849
HGF-Programm 16.05.02 (Vor POF, LK 01)
Serie KfK-Berichte ; 4849
Art der Arbeit Dissertation
Prüfungsdaten Diss. v. 23.1.1991
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page