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MICROTOOP, Optoelektronische Analyse der mikrographischen Rauhigkeit mechanischer Oberflaechen

Meyrueis, P.; Mesch, Franz; [Verf.]; Takakura, H.; Drazic, J.; [Berichterst.]



Zugehörige Institution(en) am KIT Deutsch-Französisches Institut für Automation und Robotik - Teilinstitut Karlsruhe (IAR -Teilinst. KA)
Institut für Mess- und Regelungstechnik mit Maschinenlaboratorium (MRT)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 1991
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 44191
Erscheinungsvermerk In: Jahresbericht. Deutsch-Franzoesisches Institut fuer Automation und Robotik. 1990. Karlsruhe, Strassburg 1991. S. 37-38.
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