Prozeßbegleitende Bestimmung von Defektdichten in hochintegrierten Schaltungen
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
| Publikationstyp | Hochschulschrift |
| Publikationsjahr | 1998 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 46098 |
| Verlag | Universität Karlsruhe (TH) |
| Erscheinungsvermerk | Düsseldorf 1998. (Fortschritt-Berichte VDI. Reihe 9, Nr. 280.) Fak. f. Informatik, Diss. v. 15.7.1998. |
| Art der Arbeit | Dissertation |
| Fakultät | Fakultät für Informatik (INFORMATIK) |
| Institut | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
| Prüfungsdaten | Diss. v. 15.7.1998 |