KIT | KIT-Bibliothek | Impressum

Prozeßbegleitende Bestimmung von Defektdichten in hochintegrierten Schaltungen

Weiland, Larg H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF)
Publikationstyp Hochschulschrift
Jahr 1998
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 46098
Erscheinungsvermerk Düsseldorf 1998. (Fortschritt-Berichte VDI. Reihe 9, Nr. 280.) Fak. f. Informatik, Diss. v. 15.7.1998.
Abschlussart Dissertation
Fakultät Fakultät für Informatik (INFORMATIK)
Institut Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF)
Prüfungsdaten Diss. v. 15.7.1998
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page