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Verfahren zur quantitativen statistischen Bewertung von Zusatzwissen in der Meßtechnik

Beyerer, Jürgen


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mess- und Regelungstechnik mit Maschinenlaboratorium (MRT)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsjahr 1999
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 3-18-378308-8
ISSN: 0178-9546
KITopen-ID: 50099
Verlag VDI Verlag
Serie Fortschritt-Berichte VDI / 8 ; 783
Art der Arbeit Habilitation
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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