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Verfahren zur quantitativen statistischen Bewertung von Zusatzwissen in der Meßtechnik

Beyerer, Jürgen



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mess- und Regelungstechnik mit Maschinenlaboratorium (MRT)
Publikationstyp Hochschulschrift
Jahr 1999
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 3-18-378308-8
ISSN: 0178-9546
KITopen ID: 50099
Verlag VDI-Verl., Düsseldorf
Serie Fortschritt-Berichte VDI / 8 ; 783
Abschlussart Habilitation
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