Charakterisierung von Oberflächeneigenschaften und mikrotribologischen Wechselwirkungen an Si- und SiC-Einkristallen mit dem Rasterkraftmikroskop
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Werkstoffkunde II (IWK II) Institut für Materialforschung (IMF) |
| Publikationstyp | Hochschulschrift |
| Jahr | 2000 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 5422000 Reportnummer: FZKA-6503 |
| HGF-Programm | 42 (Vor POF, LK 01) |
| Erscheinungsvermerk | Karlsruhe 2000. (Wissenschaftliche Berichte. FZKA. 6503.) Fak. f. Maschinenbau, Diss. v. 13.7.2000. |
| Abschlussart | Dissertation |
| Fakultät | Fakultät für Maschinenbau (MACH) |
| Institut | Institut für Werkstoffkunde II (IWK II) |
| Prüfungsdaten | Diss. v. 13.7.2000 |