Charakterisierung von Oberflächeneigenschaften und mikrotribologischen Wechselwirkungen an Si- und SiC-Einkristallen mit dem Rasterkraftmikroskop
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Materialforschung (IMF) Fakultät für Maschinenbau – Institut für Werkstoffkunde II (IWK II) |
| Publikationstyp | Hochschulschrift |
| Publikationsjahr | 2000 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 5422000 Reportnummer: FZKA-6503 |
| HGF-Programm | 42 (Vor POF, LK 01) |
| Verlag | Universität Karlsruhe (TH) |
| Umfang | 150 S. |
| Serie | Wissenschaftliche Berichte. FZKA ; 6503 |
| Art der Arbeit | Dissertation |
| Fakultät | Fakultät für Maschinenbau (MACH) |
| Institut | Fakultät für Maschinenbau – Institut für Werkstoffkunde II (IWK II) |
| Prüfungsdaten | Diss. v. 13.7.2000 |
| Prüfungsdatum | 13.07.2000 |
| Nachgewiesen in | OpenAlex |
| Referent/Betreuer | Zum Gahr, K. H. |