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Charakterisierung von Oberflächeneigenschaften und mikrotribologischen Wechselwirkungen an Si- und SiC-Einkristallen mit dem Rasterkraftmikroskop

Poehlmann, Klaus

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Volltext §
DOI: 10.5445/IR/5422000
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Institut für Werkstoffkunde II (IWK II)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsjahr 2000
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 5422000
Reportnummer: FZKA-6503
HGF-Programm 42 (Vor POF, LK 01)
Verlag Universität Karlsruhe (TH)
Erscheinungsvermerk Karlsruhe 2000. (Wissenschaftliche Berichte. FZKA. 6503.) Fak. f. Maschinenbau, Diss. v. 13.7.2000.
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Maschinenbau (MACH)
Institut Institut für Werkstoffkunde II (IWK II)
Prüfungsdaten Diss. v. 13.7.2000
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