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Charakterisierung von Oberflächeneigenschaften und mikrotribologischen Wechselwirkungen an Si- und SiC-Einkristallen mit dem Rasterkraftmikroskop

Poehlmann, Klaus



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Werkstoffkunde II (IWK II)
Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Hochschulschrift
Jahr 2000
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 5422000
Reportnummer: FZKA-6503
HGF-Programm 42; LK 01
Erscheinungsvermerk Karlsruhe 2000. (Wissenschaftliche Berichte. FZKA. 6503.) Fak. f. Maschinenbau, Diss. v. 13.7.2000.
Abschlussart Dissertation
Fakultät Fakultät für Maschinenbau (MACH)
Institut Institut für Werkstoffkunde II (IWK II)
Prüfungsdaten Diss. v. 13.7.2000
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