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Charakterisierung von Partikelkonturen mittels Fraktalen und komplexer Fourieranalyse

Weichert, Reiner



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mechanische Verfahrenstechnik und Mechanik (MVM)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 1989
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 58189
Erscheinungsvermerk In: Preprints 1. 4. Europaeisches Symposion Partikelmesstechnik, Nuernberg 1989. S. 409-420.
Bemerkung zur Veröffentlichung Sonderdrucknummer 89S232
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