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Investigations on the reliability of FEA calculations on the microscopic scale

Froehlich, A.; Weyer, S.; Metz, Daniel; Mueller, Ottmar; Brueckner-Foit, Angelika; Albers, Albert

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Volltext §
DOI: 10.5445/IR/5892002
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Maschinenkonstruktionslehre und Kraftfahrzeugbau (Inst. f. Masch.-Konstr.-Lehre u. Kraftfahrzeugbau)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2001
Sprache Englisch
Identifikator urn:nbn:de:swb:90-AAA58920025
KITopen-ID: 5892002
Erschienen in Technical Proceedings of the 2001 International Conference on Computational Nanoscience, March 19-21, 2001, Hilton Head Island, South Carolina, USA
Verlag Hilton Head Island
Seiten 4 S.
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