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Near-field photoluminescence imaging of single defects in a ZnSe quantum-well structure at low temperatures

von Freymann, G.; Lüerssen, D.; Rabenstein, C.; Mikolaiczyk, M.; Richter, H.;; Kalt, H.; Schimmel, T.; Wegener, M.; Okhawa, K.; Hommel, D.

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Volltext §
DOI: 10.5445/IR/5962000
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Physik (APH)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2000
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0003-6951
urn:nbn:de:swb:90-AAA59620002
KITopen-ID: 5962000
Erschienen in Applied Physics Letters
Band 78
Heft 2
Seiten 203-205
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