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Statistical analysis of near-field photoluminescence spectra of single ultrathin layers of CdSe/ZnSe

Freymann, Georg von; Kurtz, Elisabeth; Klingshirn, Claus; Wegener, Martin

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Volltext §
DOI: 10.5445/IR/5992000
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Physik (APH)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2000
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0003-6951
urn:nbn:de:swb:90-AAA59920009
KITopen-ID: 5992000
Erschienen in Applied Physics Letters
Verlag American Institute of Physics (AIP)
Band 77
Heft 3
Seiten 394-396
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