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A genetic algorithm for the evaluation of material parameters of compound multilayered structures

Zwick, Thomas; Haala, Jens; Wiesbeck, Werner



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Höchstfrequenztechnik und Elektronik (IHE)
Sonderforschungsbereich 425 (SFB 425)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2002
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0018-9480
KITopen-ID: 6092002
Erschienen in IEEE transactions on microwave theory and techniques
Band 50
Heft 4
Seiten 1180-1187
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