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URN: urn:nbn:de:swb:90-AAA6120007

Selbsttest mit Akkumulatoren

Mayer, Frank



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF)
Publikationstyp Hochschulschrift
Jahr 2000
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 3-89722-384-8

KITopen-ID: 612000
Verlag Logos, Berlin
Abschlussart Dissertation
Fakultät Fakultät für Informatik (INFORMATIK)
Institut Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF)
Prüfungsdaten 10.02.2000
Externe Relationen Siehe auch
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