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URN: urn:nbn:de:swb:90-AAA6120007

Selbsttest mit Akkumulatoren

Mayer, Frank



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF)
Publikationstyp Hochschulschrift
Jahr 2000
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 3-89722-384-8
KITopen ID: 612000
Verlag Logos, Berlin
Abschlussart Dissertation
Fakultät Fakultät für Informatik (INFORMATIK)
Institut Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF)
Prüfungsdaten 10.02.2000
URLs Diese Dissertation wird mit Zustimmung des Logos Verlages hier veröffentlicht.
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