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Selbsttest mit Akkumulatoren

Mayer, Frank

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Volltext §
DOI: 10.5445/IR/612000
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsjahr 2000
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 3-89722-384-8
urn:nbn:de:swb:90-AAA6120007
KITopen-ID: 612000
Verlag Logos Verlag Berlin
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Informatik (INFORMATIK)
Institut Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF)
Prüfungsdaten 10.02.2000
Externe Relationen Siehe auch
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