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Verfahren zur Testmustererzeugung fuer statische CMOS-Schaltnetze

Schaefer, Manfred



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Publikationstyp Hochschulschrift
Jahr 1989
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 61289
Erscheinungsvermerk Duesseldorf 1989. (Fortschritt-Berichte VDI. Reihe 21, Nr. 38.) Fak. f. Elektrotechnik, Diss. v. 25.10.1988.
Abschlussart Dissertation
Fakultät Fakultät für Elektrotechnik (Fak. für Elektrotech.)
Institut Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Prüfungsdaten Diss. v. 25.10.1988
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