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Verfahren zur Testmustererzeugung fuer statische CMOS-Schaltnetze

Schaefer, Manfred



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsjahr 1989
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 61289
Verlag Universität Karlsruhe (TH)
Erscheinungsvermerk Duesseldorf 1989. (Fortschritt-Berichte VDI. Reihe 21, Nr. 38.) Fak. f. Elektrotechnik, Diss. v. 25.10.1988.
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Elektrotechnik (Fak. für Elektrotech.)
Institut Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Prüfungsdaten Diss. v. 25.10.1988
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