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An improved technique for measuring contact angles at fine particles

Broeckel, Ulrich; Loeffler, Friedrich



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mechanische Verfahrenstechnik und Mechanik (MVM)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 1991
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 61391
Erscheinungsvermerk In: Proceedings. 2nd World Congress Particle Technology, Kyoto 1990. Pt. 1. S. 511-517.
Bemerkung zur Veröffentlichung Sonderdrucknummer 92S17
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