Bestimmung möglicher Fabrikationsfehler aus dem Schaltungslayout
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
| Publikationstyp | Hochschulschrift |
| Publikationsjahr | 1995 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 63395 |
| Verlag | Universität Karlsruhe (TH) |
| Erscheinungsvermerk | Hamburg 1995. Fak. f. Informatik, Diss. v. 19.7.1995 u.d.T.: Bestimmung realistischer Fehlermöglichkeiten aus dem Layout hochintegrierter CMOS-Schaltungen. |
| Art der Arbeit | Dissertation |
| Fakultät | Fakultät für Informatik (INFORMATIK) |
| Institut | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
| Prüfungsdaten | Diss. v. 19.7.1995 |