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Bestimmung möglicher Fabrikationsfehler aus dem Schaltungslayout

Spiegel, Gerald



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF)
Publikationstyp Hochschulschrift
Jahr 1995
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 63395
Erscheinungsvermerk Hamburg 1995. Fak. f. Informatik, Diss. v. 19.7.1995 u.d.T.: Bestimmung realistischer Fehlermöglichkeiten aus dem Layout hochintegrierter CMOS-Schaltungen.
Abschlussart Dissertation
Fakultät Fakultät für Informatik (INFORMATIK)
Institut Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF)
Prüfungsdaten Diss. v. 19.7.1995
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