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Experiments on the depolarization near-field scanning optical microscope

Adelmann, Ch.; Hetzler, Jochen; Scheiber, Günter; Schimmel, Thomas; Wegener, Martin; Weber, Heiko B.; Löhneysen, Hilbert von



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Physik (APH)
Physikalisches Institut (PHI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 1999
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0003-6951
KITopen ID: 65199
Erschienen in Applied Physics Letters
Band 74
Heft 2
Seiten 179-181
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