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Transport properties of epitaxial YBa2Cu3Osub(x) films at step edges

Friedl, G.; Roas, B.; Roemheld, M.; Schultz, L.; Jutzi, Wilhelm



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Elektrotechnische Grundlagen der Informatik (IEGI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 1991
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 65591
Erscheinungsvermerk Appl. phys. let. 59 (1991) S. 2751-2753.
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