| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Physik (APH) Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik – Institut für Höchstfrequenztechnik und Elektronik (IHE) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 2001 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 6862001 |
| Erscheinungsvermerk | In: Scanning probe techniques for materials characterization at nanometer scale. Ed.: D.C. Hansen. Pennington, NJ 2001. S. 25. (Proceedings volume. Electrochemical Society. 2000,35.) |