Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Physik (APH) Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik – Institut für Höchstfrequenztechnik und Elektronik (IHE) |
Publikationstyp | Buchaufsatz |
Publikationsjahr | 2001 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | KITopen-ID: 6862001 |
Erscheinungsvermerk | In: Scanning probe techniques for materials characterization at nanometer scale. Ed.: D.C. Hansen. Pennington, NJ 2001. S. 25. (Proceedings volume. Electrochemical Society. 2000,35.) |