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Measuring the robustness of empirical efficiency valuations

Kuntz, Ludwig; Scholtes, Stefan



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Statistik und Mathematische Wirtschaftstheorie (SMW)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2000
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 7322000
Erscheinungsvermerk Managem. sci. 46 (2000) S. 807-823.
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