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Determination of segregation, elastic strain and thin foil relaxation in InGaAs islands on GaAs(001) by high-resolution transmission electron microscopy

Tillmann, Karsten; Thust, Andreas; Lentzen, Markus; Swiatek, Piotr; Foerster, Arno; Urban, Knut; Laufs, W.; Gerthsen, Dagmar; Remmele, Thilo; Rosenauer, Andreas



Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 1996
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 75796
Erscheinungsvermerk Philos. mag., Let. 74 (1996) S. 309-315.
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