Determination of segregation, elastic strain and thin foil relaxation in InGaAs islands on GaAs(001) by high-resolution transmission electron microscopy

Tillmann, Karsten; Thust, Andreas; Lentzen, Markus; Swiatek, Piotr; Foerster, Arno; Urban, Knut; Laufs, W.; Gerthsen, Dagmar; Remmele, Thilo; Rosenauer, Andreas

Determination of segregation, elastic strain and thin foil relaxation in InGaAs islands on GaAs(001) by high-resolution transmission electron microscopy

Tillmann, Karsten; Thust, Andreas; Lentzen, Markus; Swiatek, Piotr; Foerster, Arno; Urban, Knut; Laufs, W.; Gerthsen, Dagmar; Remmele, Thilo; Rosenauer, Andreas

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	1996
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 75796
Erscheinungsvermerk	Philos. mag., Let. 74 (1996) S. 309-315.

Repository KITopen

Determination of segregation, elastic strain and thin foil relaxation in InGaAs islands on GaAs(001) by high-resolution transmission electron microscopy