Computer simulations on near-field scanning optical microscopy: can subwavelength resolution be obtained using uncoated optical fiber probes?

Freymann, Georg von; Schimmel, Thomas; Wegener, Martin; Hanewinkel, B.; Knorr, A.; Koch, Stephan

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Angewandte Physik (APH)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	1998
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 77398
Erscheinungsvermerk	Appl. phys. let. 73 (1998) S. 1170.