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Nano-characterisation and material contrast on heterogeneous samples by scanning force techniques

Schimmel, Thomas; Boehringer, S.; Kueppers, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Physik (APH)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 1998
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 77698
Erscheinungsvermerk In: Proceedings of the 11th International Congress of the European Societies for Electron Microscopy, EUREM '96.
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