Nano-characterisation and material contrast on heterogeneous samples by scanning force techniques
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Physik (APH) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1998 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 77698 |
| Erscheinungsvermerk | In: Proceedings of the 11th International Congress of the European Societies for Electron Microscopy, EUREM '96. |