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Local electrical deposition of metal islands mechanically induced with the tip of an atomic force microscope

Obermair, Christian; Mueller, Matthias; Klinke, Ch.; Schimmel, Thomas



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Physik (APH)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2001
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1009-1963
KITopen ID: 8172001
Erschienen in Chinese Physic - Overseas edition
Band 10
Seiten 151-156
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