KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Quality gate concept with integrated risk management

Spath, Dieter; Scharer, Michael; Nesges, Daniel


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktionstechnik (WBK)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2003
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0944-6524
KITopen-ID: 8512003
Erschienen in Production Engineering
Verlag Wissenschaftliche Gesellschaft für Produktionstechnik e.V. (WGP)
Band 10
Heft 1
Seiten 73 - 76
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page