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Analysis of composition fluctuations in InGaN by transmission electron microscopy

Gerthsen, Dagmar; Hahn, Eike; Neubauer, Brigitte; Rosenauer, Andreas; Schoen, O.; Heuken, Michael



Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2000
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 8672000
Erscheinungsvermerk Physica status solidi A 177 (2000) S. 145.
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