Analysis of composition fluctuations in InGaN by transmission electron microscopy

Gerthsen, Dagmar; Hahn, Eike; Neubauer, Brigitte; Rosenauer, Andreas; Schoen, O.; Heuken, Michael

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seit 31.05.2018

Zugehörige Institution(en) am KIT	Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	2000
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 8672000
Erscheinungsvermerk	Physica status solidi A 177 (2000) S. 145.