Structural and chemical investigation of In0.6Ga0.4As Stranski-Krastanow layers buried in GaAs by transmission electron microscopy

Rosenauer, Andreas; Oberst, Wieland; Litvinov, Dimitri; Gerthsen, Dagmar; Foerster, Arno; Schmidt, R.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	2000
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 8692000
Erscheinungsvermerk	Phys. rev. B 61 (2000) S. 8276.