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Structural and chemical investigation of In0.6Ga0.4As Stranski-Krastanow layers buried in GaAs by transmission electron microscopy

Rosenauer, Andreas; Oberst, Wieland; Litvinov, Dimitri; Gerthsen, Dagmar; Foerster, Arno; Schmidt, R.



Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2000
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 8692000
Erscheinungsvermerk Phys. rev. B 61 (2000) S. 8276.
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