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Extracting quantitative information from high resolution electron microscopy

Kret, S.; Rosenauer, Andreas; Gerthsen, Dagmar; Ruterana, P.



Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2001
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0370-1972
KITopen ID: 8882001
Erschienen in Physica status solidi B
Band 227
Heft 1
Seiten 247
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