Influence of the growth duration on the In concentration in epitaxial InGaN layers

Neubauer, Brigitte; Rosenauer, Andreas; Gerthsen, Dagmar; Schoen, O.; Heuken, Michael

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen)
Publikationstyp	Buchaufsatz
Publikationsjahr	2000
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 8892000
Erscheinungsvermerk	In: Proceedings of the 12th European Congress on Electron Microscopy, EUREM 2000. Ed.: L. Frank. Vol. 2. S. 281.