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Quantification of segregation and mass transport in InGaAs/GaAs Stranski-Krastanow layers

Rosenauer, Andreas; Gerthsen, Dagmar; Van Dyck, D.; Arzberger, M.; Boehm, G.; Abstreiter, G.


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1103/PhysRevB.64.245334
Dimensions
Zitationen: 99
Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2001
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1098-0121
KITopen-ID: 8892001
Erschienen in Physical Review B
Verlag American Physical Society (APS)
Band 64
Heft 24
Seiten 245334/1-15
Nachgewiesen in Dimensions
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