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Atomic-scale composition analysis of semiconductor quantum dots by transmission electron microscopy

Rosenauer, Andreas; Gerthsen, Dagmar; Van Dyck, D.; Arzberger, M.; Boehm, G.; Abstreiter, G.



Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 2001
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 8952001
Erscheinungsvermerk In: Proceedings of the 7th International Symposium of Advanced Physical Fields "Fabrication and Characterization of Nanostructured Materials", Tsukuba, Japan 2001. Ed.: T. Noda. S. 70.
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