Atomic-scale composition analysis of semiconductor quantum dots by transmission electron microscopy

Rosenauer, Andreas; Gerthsen, Dagmar; Van Dyck, D.; Arzberger, M.; Boehm, G.; Abstreiter, G.

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seit 13.05.2018

Zugehörige Institution(en) am KIT	Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen)
Publikationstyp	Buchaufsatz
Publikationsjahr	2001
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 8952001
Erscheinungsvermerk	In: Proceedings of the 7th International Symposium of Advanced Physical Fields "Fabrication and Characterization of Nanostructured Materials", Tsukuba, Japan 2001. Ed.: T. Noda. S. 70.