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OSEK/VDX - Auf dem Weg zu einem internationalen Standard

Kiencke, Uwe; John, Dirk; Maisch, Ansgar



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 1998
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 90598
Erscheinungsvermerk In: Embedded Intelligence '98. Vorträge und Begleittexte. Hrsg.: I. Schwabe. Poing : Des. & Elektron. 1998.
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