Scanning probe microscopes-instruments for surface analysis and surface modification on the nanometer scale
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Physik (APH) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2000 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 9352000 |
| Erscheinungsvermerk | Nachr., Forschungszentrum Karlsruhe 32 (1999) S. 217-223. |