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Scanning probe microscopes-instruments for surface analysis and surface modification on the nanometer scale

Schimmel, Thomas



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Physik (APH)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2000
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 9352000
Erscheinungsvermerk Nachr., Forschungszentrum Karlsruhe 32 (1999) S. 217-223.
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