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Scanning probe microscopes-instruments for surface analysis and surface modification on the nanometer scale

Schimmel, Thomas



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Physik (APH)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2000
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 9352000
Erscheinungsvermerk Nachr., Forschungszentrum Karlsruhe 32 (1999) S. 217-223.
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