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Fast face localization system using a statistical color model. A comparison of lip contour models used for automatic lipreading

Kroschel, Kristian; Mekhaiel, Moheb; Crowley, James; Berard, Francois



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nachrichtentechnik - Communications Engineering Lab (CEL)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 1997
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 93597
Erscheinungsvermerk In: Annual Meeting of the IAR, Duisburg 1997.
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