Fast face localization system using a statistical color model. A comparison of lip contour models used for automatic lipreading

Kroschel, Kristian; Mekhaiel, Moheb; Crowley, James; Berard, Francois

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Communications Engineering Lab (CEL)
Publikationstyp	Buchaufsatz
Publikationsjahr	1997
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 93597
Erscheinungsvermerk	In: Annual Meeting of the IAR, Duisburg 1997.