OSEK/VDX conformance testing - MODISTARC

Hoffmann, C.; John, Dirk; Krammer, J.; Mathieu, L.; Minuth, J.; Quelenis, O.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp	Buchaufsatz
Publikationsjahr	1998
Sprache	Deutsch
Identifikator	KITopen-ID: 93998
Erscheinungsvermerk	In: OSEK/VDX/Open Systems in Automotive Networks, IEE Savoy Place, London 1998. S. 7/1-7/17.