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OSEK/VDX conformance testing - MODISTARC

Hoffmann, C.; John, Dirk; Krammer, J.; Mathieu, L.; Minuth, J.; Quelenis, O.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp Buchaufsatz
Publikationsjahr 1998
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 93998
Erscheinungsvermerk In: OSEK/VDX/Open Systems in Automotive Networks, IEE Savoy Place, London 1998. S. 7/1-7/17.
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