| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Festkörperphysik (IFP) Physikalisches Institut (PHI) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2003 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0169-4332, 1873-5584 KITopen-ID: 9882003 |
| HGF-Programm | 52.01.01 (Vor POF, LK 01) |
| Erschienen in | Applied surface science |
| Verlag | Elsevier |
| Band | 212-213 |
| Seiten | 105-109 |
| Schlagwörter | Dopants, Reconstruction, Scanning tunneling microscopy, Scanning tunneling spectroscopy, Silicon surfaces |
| Nachgewiesen in | Dimensions Web of Science Scopus OpenAlex |