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Acoustic emission and precision force- displacement observations of pointed and spherical indentation of silicon and TiN film on silicon

Shiwa, M.; Weppelmann, Edgar; Munz, Dietrich; Swain, Mike; Kishi, T.


Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Maschinenbau – Institut für Zuverlässigkeit und Schadenskunde im Maschinenbau (IZBS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1996
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 99896
Erscheinungsvermerk J. of mater. sci. 32 (1996) S. 5985-5991.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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