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Entwicklung einer FEM-basierten Methode zur Gestaltung von Sicken für biegebeanspruchte Leitstützstrukturen im Konstruktionsprozess. Development of a FEM-based method for the design of bead patterns for channel and support structures under bending load in the design process

Emmrich, Dieter

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Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000002726
Coverbild
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktentwicklung (IPEK)
Publikationstyp Hochschulschrift
Jahr 2005
Sprache Deutsch
Identifikator ISSN: 1615-8113
urn:nbn:de:swb:90-27264
KITopen-ID: 1000002726
Verlag Inst. für Produktentw., Karlsruhe
Serie Forschungsberichte. IPEK ; 13
Abschlussart Dissertation
Fakultät Fakultät für Maschinenbau (MACH)
Institut Institut für Produktentwicklung (IPEK)
Prüfungsdaten 09.12.2004
Referent/Betreuer Prof. A. Albers
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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