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URN: urn:nbn:de:swb:90-27264

Entwicklung einer FEM-basierten Methode zur Gestaltung von Sicken für biegebeanspruchte Leitstützstrukturen im Konstruktionsprozess. Development of a FEM-based method for the design of bead patterns for channel and support structures under bending load in the design process

Emmrich, Dieter



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktentwicklung (IPEK)
Publikationstyp Hochschulschrift
Jahr 2005
Sprache Deutsch
Identifikator ISSN: 1615-8113
URN: urn:nbn:de:swb:90-27264
KITopen ID: 1000002726
Verlag Inst. für Produktentw., Karlsruhe
Serie Forschungsberichte. IPEK ; 13
Abschlussart Dissertation
Fakultät Fakultät für Maschinenbau (MACH)
Institut Institut für Produktentwicklung (IPEK)
Prüfungsdaten 09.12.2004
Referent/Betreuer Prof. A. Albers
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