Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
Publikationstyp | Hochschulschrift |
Publikationsjahr | 2006 |
Sprache | Deutsch |
Identifikator | ISBN: 3-86644-054-5 urn:nbn:de:0072-48263 KITopen-ID: 1000004826 |
Verlag | Universitätsverlag Karlsruhe |
Umfang | 185 |
Art der Arbeit | Dissertation |
Fakultät | Fakultät für Informatik (INFORMATIK) |
Institut | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
Prüfungsdaten | 18.07.2006 |
Schlagwörter | Triangulierung, Profil <Oberfläche>, Oberfläche, Oberflächenprüfung, Optische Messtechnik, Optische Messung, Messtechnik, Kalibrieren <Messtechnik> |
Referent/Betreuer | Dillmann, R. |