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Auswertung und Charakterisierung dreidimensionaler Messdaten technischer Oberflächen mit Riefentexturen

Xin, Binjian

Abstract:
Im Rahmen dieser Arbeit werden Charakterisierung optisch erfasster 3D-Oberflächendaten untersucht. Für eine effiziente Auswertung ist es nötig, die Texturkomponenten zu zerlegen. Zwei Ansätze zur Separation von Riefentexturen werden vorgestellt, die auf einer geometrischen bzw. spektralen Modellierung beruhen. Auf Basis der Separation wird die Charakterisierung vorgestellt, deren robuste und zuverlässige Kenngrößen zur Beurteilung der Oberflächenqualität herangezogen werden können.

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DOI: 10.5445/IR/1000009995
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mess- und Regelungstechnik mit Maschinenlaboratorium (MRT)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsjahr 2008
Sprache Deutsch
Identifikator urn:nbn:de:swb:90-99958
KITopen-ID: 1000009995
Verlag Universität Karlsruhe, Karlsruhe
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Maschinenbau (MACH)
Institut Institut für Mess- und Regelungstechnik mit Maschinenlaboratorium (MRT)
Prüfungsdaten 26.03.2008
Referent/Betreuer Prof. C. Stiller
Schlagwörter 3D-Oberflächendaten, Riefentextur, Bildverarbeitung
Relationen in KITopen
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