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Beladungskinetik von Faserfiltern - Beladungskinetik einzelner Filterfasern

Schollmeier, Stefan

Abstract:

Anhand von Messungen mit Streulichtmesstechnik und Konfokaler Laser Raster Mikroskopie konnte im Rahmen dieser Dissertation die Bedeutung des Abprallens von Partikeln auf den Abscheidegrad unbeladener und beladener einzelner als auch isolierter Fasern sowie auf die dabei entstehenden Ablagerungsstrukturen gezeigt werden. Größere Partikel sowie höhere Anströmgeschwindigkeiten führen dabei zu verstärktem Abprallen und beeinflussen so Abscheidegrad und Ablagerungsstrukturen.


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000011446
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mechanische Verfahrenstechnik und Mechanik (MVM)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsjahr 2008
Sprache Deutsch
Identifikator urn:nbn:de:swb:90-114466
KITopen-ID: 1000011446
Verlag Universität Karlsruhe (TH)
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Chemieingenieurwesen und Verfahrenstechnik (CIW)
Institut Institut für Mechanische Verfahrenstechnik und Mechanik (MVM)
Prüfungsdaten 05.12.2008
Schlagwörter Tiefenfilter, Einzelfaser, Isolierte Faser, Abscheidegrad, Partikelablagerungsstrukturen, CLSM, Streulichtmesstechnik, Umströmungswiderstand, CFD
Referent/Betreuer Kasper, G.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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