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Structural, microchemical and superconducting properties of ultrathin NbN films on silicon

Gerthsen, D.; Schneider, R.; Freitag, B.; Ilin, K. S.; Siegel, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0232-1300
KITopen-ID: 1000015329
Erschienen in Crystal Research and Technology
Band 44
Heft 10
Seiten 1115 - 1121
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