Deflektometrie zur automatischen Sichtprüfung und Rekonstruktion spiegelnder Oberflächen
Abstract:
Die Deflektometrie liefert Gestaltinformationen über spiegelnde Oberflächen durch Beobachtung von a priori bekannten Mustern. Zur automatischen Sichtprüfung von (teil)spiegelnden Objekten werden das Konzept der inversen Muster sowie Strategien zur Auswertung der deflektometrischen Registrierung präsentiert. Zur Rekonstruktion spiegelnder Flächen wird ein neuartiger Algorithmus dargelegt. Große, komplex geformte spiegelnde Objekte können mit den dargelegten Methoden geprüft und vermessen werden.
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Anthropomatik (IFA) |
| Publikationstyp | Hochschulschrift |
| Publikationsjahr | 2011 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | ISBN: 978-3-86644-687-8 ISSN: 1866-5934 urn:nbn:de:0072-232878 KITopen-ID: 1000023287 |
| Verlag | KIT Scientific Publishing |
| Umfang | XI, 262 S. |
| Serie | Schriftenreihe Automatische Sichtprüfung und Bildverarbeitung ; 3 |
| Art der Arbeit | Dissertation |
| Fakultät | Fakultät für Informatik (INFORMATIK) |
| Institut | Fakultät für Informatik – Institut für Anthropomatik (IFA) |
| Prüfungsdaten | 21.01.2011 |
| Schlagwörter | Deflektometrie, spiegelnde Oberflächen, Sichtprüfung, Oberflächenrekonstruktion, Normalenfeld |
| Relationen in KITopen | |
| Referent/Betreuer | Beyerer, J. |