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DOI: 10.5445/KSP/1000023287
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Deflektometrie zur automatischen Sichtprüfung und Rekonstruktion spiegelnder Oberflächen

Werling, Stefan Bruno

Abstract:
Die Deflektometrie liefert Gestaltinformationen über spiegelnde Oberflächen durch Beobachtung von a priori bekannten Mustern. Zur automatischen Sichtprüfung von (teil)spiegelnden Objekten werden das Konzept der inversen Muster sowie Strategien zur Auswertung der deflektometrischen Registrierung präsentiert. Zur Rekonstruktion spiegelnder Flächen wird ein neuartiger Algorithmus dargelegt. Große, komplex geformte spiegelnde Objekte können mit den dargelegten Methoden geprüft und vermessen werden.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Anthropomatik (IFA)
Publikationstyp Hochschulschrift
Jahr 2011
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 978-3-86644-687-8
ISSN: 1866-5934
URN: urn:nbn:de:0072-232878
KITopen ID: 1000023287
Verlag KIT Scientific Publishing, Karlsruhe
Umfang XI, 262 S.
Serie Schriftenreihe Automatische Sichtprüfung und Bildverarbeitung ; 3
Abschlussart Dissertation
Fakultät Fakultät für Informatik (INFORMATIK)
Institut Institut für Anthropomatik (IFA)
Prüfungsdaten 21.01.2011
Referent/Betreuer Prof. J. Beyerer
Schlagworte Deflektometrie, spiegelnde Oberflächen, Sichtprüfung, Oberflächenrekonstruktion, Normalenfeld
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