| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Anthropomatik (IFA) |
| Publikationstyp | Hochschulschrift |
| Publikationsjahr | 2011 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | urn:nbn:de:swb:90-232904 KITopen-ID: 1000023290 |
| Verlag | Karlsruher Institut für Technologie (KIT) |
| Art der Arbeit | Dissertation |
| Fakultät | Fakultät für Informatik (INFORMATIK) |
| Institut | Fakultät für Informatik – Institut für Anthropomatik (IFA) |
| Prüfungsdaten | 21.01.2011 |
| Schlagwörter | Deflektometrie, spiegelnde Oberflächen, Sichtprüfung, Oberflächenrekonstruktion, Normalenfelder |
| Relationen in KITopen | |
| Referent/Betreuer | Beyerer, J. |