Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Anthropomatik (IFA) |
Publikationstyp | Hochschulschrift |
Publikationsjahr | 2011 |
Sprache | Deutsch |
Identifikator | urn:nbn:de:swb:90-232904 KITopen-ID: 1000023290 |
Verlag | Karlsruher Institut für Technologie (KIT) |
Art der Arbeit | Dissertation |
Fakultät | Fakultät für Informatik (INFORMATIK) |
Institut | Fakultät für Informatik – Institut für Anthropomatik (IFA) |
Prüfungsdaten | 21.01.2011 |
Schlagwörter | Deflektometrie, spiegelnde Oberflächen, Sichtprüfung, Oberflächenrekonstruktion, Normalenfelder |
Relationen in KITopen | |
Referent/Betreuer | Beyerer, J. |