Multi-resolution Local Appearance-based Face Verification

Gao, H. ¹; Ekenel, H . K.; Fischer, M. ¹; Stiefelhagen, Rainer

¹
¹ Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

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DOI: 10.5445/IR/1000026384

Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/ICPR.2010.371

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Fakultät für Informatik – Institut für Anthropomatik (IFA)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr	2010
Sprache	Englisch
Identifikator	urn:nbn:de:swb:90-263845 KITopen-ID: 1000026384
Erschienen in	Proceedings of the International Converence on Pattern Recognition (ICPR10), Istanbul, Turkey, August 2010
Verlag	Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten	1501-1504
Nachgewiesen in	Dimensions Scopus