KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Multi-resolution Local Appearance-based Face Verification

Gao, H. 1; Ekenel, H . K.; Fischer, M. 1; Stiefelhagen, Rainer ORCID iD icon 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000026384
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/ICPR.2010.371
Scopus
Zitationen: 3
Dimensions
Zitationen: 3
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Informatik – Institut für Anthropomatik (IFA)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator urn:nbn:de:swb:90-263845
KITopen-ID: 1000026384
Erschienen in Proceedings of the International Converence on Pattern Recognition (ICPR10), Istanbul, Turkey, August 2010
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 1501-1504
Nachgewiesen in Dimensions
Scopus
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page