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Volltext
URN: urn:nbn:de:swb:90-263845
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/ICPR.2010.371

Multi-resolution Local Appearance-based Face Verification

Gao, H.; Ekenel, H .K.; Fischer, M.; Stiefelhagen, Rainer



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Anthropomatik (IFA)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000026384
Erschienen in Proceedings of the International Converence on Pattern Recognition (ICPR10), Istanbul, Turkey, August 2010
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 1501-1504
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