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Herstellung dünner metallischer Brücken durch Elektromigration und Charakterisierung mit Rastersondentechniken

Stöffler, Dominik


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000026612
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Physikalisches Institut (PHI)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsjahr 2012
Sprache Deutsch
Identifikator urn:nbn:de:swb:90-266129
KITopen-ID: 1000026612
Verlag Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Physik (PHYSIK)
Institut Physikalisches Institut (PHI)
Prüfungsdaten 09.02.2012
Relationen in KITopen
Referent/Betreuer Löhneysen, H. von
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