Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien - Zuverlässigkeit von Bauteilen und Systemen (IAM-ZBS) |
Publikationstyp | Hochschulschrift |
Publikationsjahr | 2013 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | urn:nbn:de:swb:90-334572 KITopen-ID: 1000033457 |
Verlag | Karlsruher Institut für Technologie (KIT) |
Art der Arbeit | Dissertation |
Fakultät | Fakultät für Maschinenbau (MACH) |
Institut | Institut für Angewandte Materialien - Zuverlässigkeit von Bauteilen und Systemen (IAM-ZBS) |
Prüfungsdaten | 30.01.2013 |
Schlagwörter | phase-field modeling, magnetic shape memory, thin film growth |
Relationen in KITopen | |
Referent/Betreuer | Nestler, B. |