| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien - Zuverlässigkeit von Bauteilen und Systemen (IAM-ZBS) |
| Publikationstyp | Hochschulschrift |
| Publikationsjahr | 2013 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | urn:nbn:de:swb:90-334572 KITopen-ID: 1000033457 |
| Verlag | Karlsruher Institut für Technologie (KIT) |
| Art der Arbeit | Dissertation |
| Fakultät | Fakultät für Maschinenbau (MACH) |
| Institut | Institut für Angewandte Materialien - Zuverlässigkeit von Bauteilen und Systemen (IAM-ZBS) |
| Prüfungsdaten | 30.01.2013 |
| Schlagwörter | phase-field modeling, magnetic shape memory, thin film growth |
| Relationen in KITopen | |
| Referent/Betreuer | Nestler, B. |