Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien - Zuverlässigkeit von Bauteilen und Systemen (IAM-ZBS) |
Publikationstyp | Hochschulschrift |
Publikationsjahr | 2013 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | ISBN: 978-3-7315-0009-4 ISSN: 2192-9963 urn:nbn:de:0072-342465 KITopen-ID: 1000034246 |
Verlag | KIT Scientific Publishing |
Umfang | XVIII, 254 S. |
Serie | Schriftenreihe des Instituts für Angewandte Materialien, Karlsruher Institut für Technologie ; 19 |
Art der Arbeit | Dissertation |
Fakultät | Fakultät für Maschinenbau (MACH) |
Institut | Institut für Angewandte Materialien - Zuverlässigkeit von Bauteilen und Systemen (IAM-ZBS) |
Prüfungsdaten | 30.01.2013 |
Schlagwörter | magnetic shape memory effect, phase-field modeling, thin film growth, computational materials science and engineering |
Relationen in KITopen | |
Referent/Betreuer | Nestler, B. |