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Phasenkontrast in der Transmissionselektronenmikroskopie mit elektrostatischen Phasenplatten

Gamm, Björn

Abstract:

In dieser Arbeit wird die Anwendung elektrostatischer Phasenplatten in der Transmissionselektronenmikroskopie erforscht und diskutiert. Phasenplatten ermöglichen durch sogenannten Phasenkontrast die scharfe Abbildung von Proben, welche ansonsten transparent erscheinen. Beim Design, der Herstellung und deren Implementierung in ein Mikroskop wurden in dieser Arbeit entscheidende Fortschritte erzielt. Die hergestellten Phasenplatten wurden an relevanten Proben getestet, ihre Funktion demonstriert.

Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsjahr 2013
Sprache Deutsch
Identifikator urn:nbn:de:swb:90-337419
KITopen-ID: 1000033741
Verlag Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Physik (PHYSIK)
Institut Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Prüfungsdaten 25.01.2013
Schlagwörter Transmissionelektronenmikroskopie, Phasenkontrast, Phasenplatten, Zernike, Cryo-Elektronenmikroskopie
Nachgewiesen in OpenAlex
Referent/Betreuer Gerthsen, D.

Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000033741
Seitenaufrufe: 246
seit 13.05.2018
Downloads: 7087
seit 07.03.2013
Cover der Publikation
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