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Phasenkontrast in der Transmissionselektronenmikroskopie mit elektrostatischen Phasenplatten

Gamm, Björn

Abstract:
In dieser Arbeit wird die Anwendung elektrostatischer Phasenplatten in der Transmissionselektronenmikroskopie erforscht und diskutiert. Phasenplatten ermöglichen durch sogenannten Phasenkontrast die scharfe Abbildung von Proben, welche ansonsten transparent erscheinen. Beim Design, der Herstellung und deren Implementierung in ein Mikroskop wurden in dieser Arbeit entscheidende Fortschritte erzielt. Die hergestellten Phasenplatten wurden an relevanten Proben getestet, ihre Funktion demonstriert.

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DOI: 10.5445/IR/1000033741
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsjahr 2013
Sprache Deutsch
Identifikator urn:nbn:de:swb:90-337419
KITopen-ID: 1000033741
Verlag KIT, Karlsruhe
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Physik (PHYSIK)
Institut Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Prüfungsdaten 25.01.2013
Referent/Betreuer Prof. D. Gerthsen
Schlagwörter Transmissionelektronenmikroskopie, Phasenkontrast, Phasenplatten, Zernike, Cryo-Elektronenmikroskopie
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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