Infrared reflection absorption spectroscopy for characterization of alkylsilane monolayers on silicon nitride surfaces
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Funktionelle Grenzflächen (IFG) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2013 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-3-86644-965-7 urn:nbn:de:swb:90-340382 KITopen-ID: 1000034038 |
| HGF-Programm | 43.12.01 (POF II, LK 01) Tailored properties of nanomaterials |
| Erschienen in | OCM 2013 - Optical Characterization of Materials - Conference Proceedings, Karlsruhe, 6. - 7. März 2013. Ed.: J. Beyerer, F. Puente León, T. Längle |
| Verlag | KIT Scientific Publishing |
| Seiten | 89-94 |
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